芯片-HAST高壓加速壽命試驗箱

產品用途：用于評估非氣密性封裝IC器件（固態設備）在高溫高濕條件下的運行可靠性，對芯片、半導體等其他元器件進行溫濕度偏壓（不偏壓）高加速應力壽命老化試驗。

執行試驗標準：

GB/T2423.40-1997電工電子產品環境試驗第2部分：試驗方法Cx：不飽和高壓蒸汽的恒定濕熱

IEC60068-2-66-1994環境試驗.第2-66部分：試驗方法.試驗Cx：穩態濕熱

JESD22-A100循環的溫度和濕度偏移壽命

JESD22-A101穩態溫度，濕度/偏壓，壽命試驗（溫濕度偏壓壽命）

JESD22-A102高壓蒸煮試驗（加速抗濕性滲透）

JESD22-A108溫度、偏置電壓和工作壽命

JESD22-A110 HAST高加速溫濕度應力試驗

JESD22-A118溫濕度無偏壓高加速應力實驗UHAST（無偏置電壓未飽和高壓蒸汽）

芯片-HAST高壓加速壽命試驗箱的主要特點如下：

高溫高濕環境模擬：HAST試驗箱能夠模擬出高溫高濕的條件，通常在100°C至150°C的溫度范圍內，相對濕度達到85%至95%，可以快速加速產品的老化過程。

短周期測試：相比于自然老化測試，HAST試驗箱能夠在短時間內完成老化測試，大大縮短了測試周期，提高了測試效率。

可靠性和準確性：試驗箱配備了專業的控制系統，可以精確地監測和調節溫度、濕度等參數，從而確保測試的準確性和可靠性。

密封性能良好：HAST試驗箱的內部采用高質量不銹鋼材料制造，具有優異的密封性能，可以有效地防止外界環境對試驗結果的干擾。

廣泛適用性：HAST試驗箱廣泛應用于各個行業，包括電子產品、汽車零部件、航空航天等領域，適用于各種電子元器件和材料的老化測試。

評估產品可靠性：通過HAST試驗箱進行測試，可以提前評估產品在惡劣條件下的可靠性和耐久性，預測產品的使用壽命和在困難環境下的性能表現，為產品設計和改進提供指導。

芯片-HAST高壓加速壽命試驗箱具有快速、準確、可靠的特點，是進行電子元器件和材料老化測試的重要工具。