您的位置：芯片-HAST高壓蒸煮儀
簡要描述：芯片-HAST高壓蒸煮儀是一種高溫高濕老化試驗設備，廣泛應用于電子元器件和工業(yè)產(chǎn)品的可靠性測試領(lǐng)域。它通過模擬實際工作環(huán)境中的高溫高濕條件，加速產(chǎn)品老化過程，從而評估產(chǎn)品的可靠性和壽命。具有穩(wěn)定性高、測試周期短、操作簡單等特點，是目前常用的老化試驗設備之一。
產(chǎn)品型號：DR-HAST-350- 廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
- 更新時間：2024-10-14
- 訪 問 量：448
產(chǎn)品用途：用于評估非氣密性封裝IC器件（固態(tài)設備）在高溫高濕條件下的運行可靠性，對芯片、半導體等其他元器件進行溫濕度偏壓（不偏壓）高加速應力壽命老化試驗。
執(zhí)行試驗標準：
GB/T2423.40-1997電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法Cx：不飽和高壓蒸汽的恒定濕熱
IEC60068-2-66-1994環(huán)境試驗.第2-66部分：試驗方法.試驗Cx：穩(wěn)態(tài)濕熱
JESD22-A100循環(huán)的溫度和濕度偏移壽命
JESD22-A101穩(wěn)態(tài)溫度，濕度/偏壓，壽命試驗（溫濕度偏壓壽命）
JESD22-A102高壓蒸煮試驗（加速抗?jié)裥詽B透）
JESD22-A108溫度、偏置電壓和工作壽命
JESD22-A110 HAST高加速溫濕度應力試驗
JESD22-A118溫濕度無偏壓高加速應力實驗UHAST（無偏置電壓未飽和高壓蒸汽）
芯片-HAST高壓蒸煮儀的主要特點如下：
高溫高濕環(huán)境模擬：HAST試驗箱能夠模擬出高溫高濕的條件，通常在100°C至150°C的溫度范圍內(nèi)，相對濕度達到85%至95%，可以快速加速產(chǎn)品的老化過程。
短周期測試：相比于自然老化測試，HAST試驗箱能夠在短時間內(nèi)完成老化測試，大大縮短了測試周期，提高了測試效率。
可靠性和準確性：試驗箱配備了專業(yè)的控制系統(tǒng)，可以精確地監(jiān)測和調(diào)節(jié)溫度、濕度等參數(shù)，從而確保測試的準確性和可靠性。
密封性能良好：HAST試驗箱的內(nèi)部采用高質(zhì)量不銹鋼材料制造，具有優(yōu)異的密封性能，可以有效地防止外界環(huán)境對試驗結(jié)果的干擾。
廣泛適用性：HAST試驗箱廣泛應用于各個行業(yè)，包括電子產(chǎn)品、汽車零部件、航空航天等領(lǐng)域，適用于各種電子元器件和材料的老化測試。
評估產(chǎn)品可靠性：通過HAST試驗箱進行測試，可以提前評估產(chǎn)品在惡劣條件下的可靠性和耐久性，預測產(chǎn)品的使用壽命和在困難環(huán)境下的性能表現(xiàn)，為產(chǎn)品設計和改進提供指導。
芯片-HAST高壓蒸煮儀具有快速、準確、可靠的特點，是進行電子元器件和材料老化測試的重要工具。
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